|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
расширенный поиск |
|
|
|
|
Стандарты DIN защищены авторским правом. Федеральное государственное бюджетное учреждение «Российский институт стандартизации» имеет Соглашение с Германским институтом стандартизации DIN о распространении и воспроизведении стандартов DIN на территории РФ.
Заказчику предоставляется 1 копия стандарта на языке оригинала и/или 1 копия перевода для 1 (одного) пользователя на 1 (одно) рабочее место. Копировать документ, распространять, помещать его в места общего доступа, в архивные и другие электронные системы строго запрещено. Несоблюдение данного требования строго контролируется как правообладателем, так и дистрибьюторами.
Международные и зарубежные стандарты заказать возможно, направляйте заявку в отдел распространения документов по стандартизации на адрес gost@gostinfo.ru
Полупроводниковые материалы
Фильтр по статусу:
Найдено: 68 документов | Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 |
Заказ можно оформить только на действующие документы, у которых проставлена цена.Счет действителен к оплате в течение 10 рабочих дней.
Обозначение | Заглавие на русском языке | Статус | Язык документа | Цена (с НДС 20%) в рублях |
|
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Определение толщины покрытия оптическими методами
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 1. Определение толщины покрытия оптическими методами
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 2. Определение светочувствительности позитивных фоторезистов
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Массы прессовочные на основе эпоксидной смолы для электронных компонентов. Определение содержания ионных загрязнений с помощью методов экстракции под давлением
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных загрязнений
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение содержания компонентов в легированных газовых смесях с помощью мокрохимических методов. Часть 1. Диборан в водородно-диборановых смесях
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение содержания компонентов в легированных газовых смесях с помощью мокрохимических методов. Часть 2. Фосфин в азотно-фосфиновых смесях
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
|
Испытание материалов для полупроводниковой технологии. Определение анионов в слабых кислотах
|
|
На языке оригинала
|
Пишите на gost@gostinfo.ru
|
|
Страницы: 1 / 2 / 3 / 4 |
|
отдел распространения документов по стандартизации: e-mail: gost@gostinfo.ru, телефон: 8 (800) 101-92-72
|